Elektron, İyon ve X-ışını Mikroskopları ile Malzeme Karakterizasyonunda Yeni Trendler

24 June 2020 / temd.org

CONTACT
TURKISH SOCIETY FOR ELECTRON MICROSCOPY
Prof. Dr. Serap Arbak Ph.D (President)
cıbadem Mehmet Ali Aydınlar
Engineering Faculty

E-Mail : [email protected]